ＳＯＦＣ微細構造・元素分析解析装置 一式の入札情報

ＳＯＦＣ微細構造・元素分析解析装置 一式

• 官報「2011-12-15」日発行
• 官報掲載場所「政府調達（235号）」の「38ページ」目
• 調達機関番号「415番」（国立大学法人）
• 所在地番号「40番」（福岡県）

入札情報

• 品目分類：24
• 種別：意見招請
• 調達方法 購入等
• 導入予定時期 平成24年度11月以降
• 集束イオンビーム（ＦＩＢ）で観察試料の加工をしながら、走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）観察、走査透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）観察が行えること。
• 走査電子顕微鏡(ＳＥＭ)は、高分解能の電界放射(Field Emission)型であること。
• 特性Ｘ線を利用した元素分析の機能を備え、観察試料に微量含まれる元素の分析も可能であること。
• 観察した微細構造、元素分布は三次元構築可能であること。
• 電子線後方散乱回折法（ElectronBackscatter Diffraction：ＥＢＳＤ）により、微小領域の結晶方位の分析ができること。
• 二次イオン質量分析法（Secondary IonMass Spectrometry：ＳＩＭＳ）による元素分析が可能であること。

資料及びコメントの提供方法

資料等の提供期限 平成24年1月17日17時00分（郵送の場合は必着のこと。）

提供先 〒812-8581 福岡市東区箱崎六丁目10番1号 国立大学法人九州大学財務部調良 電話 092-達課特定調達係 平642-4195

説明書の交付

交付期間 平成23年12月15日から平成24年1月17日まで。

交付場所 上記2(2)に同じ。

説明会の開催

開催日時 平成23年12月26日11時00分

開催場所 九州大学カーボンニュートラル・エネルギー国際研究所会議室

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