2次イオン質量分析装置SIMS 一式

入札情報

  • 品目分類:24
  • 種別:意見招請
  • 調達方法 購入等
  • 導入予定時期 平成25年度3月以降
  • 2次イオン質量分析測定が行えること。
  • 一次イオン源として、Ar,O2,Cs,Biのイオンソースが使用できるイオン銃を備えていること。
  • Arクラスタービーム銃を備えていること。
  • 超高真空分析チャンバーを備えていること。
  • 高感度の飛行時間分離型または4重極型高感度、高分解能質量分析器を備えていること。
  • チャージ補償用電子銃を備えていること。
  • 加熱機構を有するロードロック室を有すること。
資料及びコメントの提供方法
資料等の提供期限 平成25年5月13日17時00分(郵送の場合は必着のこと。)
提供先 〒812-8581 福岡市東区箱崎六丁目10番1号 国立大学法人九州大学財務部調達課特定調達係 安達 章子 電話 092-642-4195
説明書の交付
交付期間 平成25年4月11日から平成25年5月13日まで。
交付場所 上記2(2)に同じ。
説明会の開催
開催日時 平成25年4月22日14時00分
開催場所 九州大学カーボンニュートラル・エネルギー国際研究所2階大会議室

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2次イオン質量分析装置SIM
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