微小部解析システム 一式
入札情報
- 品目分類：24
- 種別：意見招請
- 調達方法 購入等
- 導入予定時期 平成25年度11月以降
- 調達に必要とされる基本的な要求要件Ａ 高分解能透過型電子顕微鏡は、以下の機能を備えていること。ａ ＴＥＭ像、ＳＴＥＭ像、二次電子像の観察が可能なこと。ｂ 分解能が、200ｋV時においてＴＥＭ粒子像で0.3nm以下、ＳＴＥＭ明視野像格子像で0.25nm以下であること。ｃ フォーカス、スティグマ、コントラスト、ブライトネス、オリエンテーションが自動調整できること。ｄ 装置操作をアシストするためのナビゲーション機能を有すること。ｅ エネルギー分散型Ｘ線分析機能を有すること。Ｂ 複合ビーム加工観察装置は、以下の要件を備えていること。ａ 電界放出型走査電子顕微鏡の電子銃は、ショットキー型ＦＥ電子銃であること。ｂ 電界放出型走査電子顕微鏡の二次電子像分解能が、加速電圧 30 kV時で 1.5 nm以下であること。ｃ 集束イオンビーム装置のイオン源は、G
- 液体金属イオン源であること。ｄ 集束イオンビーム装置のイオン光学系の分解能は、加速電圧 30 kVで 5.0 nm以下であること。ｅ 集束イオンビーム装置のガスインジェクション系の供給ガスは、タングステン導入ガスであること。Ｃ 高分解能電界放出型走査電子顕微鏡は、以下の機能を備えていること。ａ 二次電子像分解能が加速電圧15kV時で0.8nm以下であること。ｂ ＣＣＤカメラで撮影した試料画像上で指定した位置に視野移動ができること。ｃ エネルギー分散型Ｘ線分析機能を有すること。ｄ 広域な観察領域に対し、指定した複数の微小観察領域を自動で連続撮影可能なソフトウェアを有すること。ｅ 観察した画像を自動格納するデータベースを有し、その画像データに対して整理、解析の操作やマニュアル測長および自動測長が可能なこと。
参考になるかもしれない落札情報
- 微小部解析システム
- 2件
本情報は官報に記載されている情報の一部です。
また、内容の取得が必ずしも上手くいっているとは限りません。
詳しくは上部にある官報掲載場所を参考にして官報の該当ページをご覧ください。
官報上においてページをまたがる場合は最後のページを表記しています。