超微細構造・元素種同時イメージングシステム 一式
入札情報
- 品目分類：24
- 種別：意見招請
- 調達方法 購入等
- 導入予定時期 平成23年度8月以降
- 調達に必要とされる基本的な要求要件Ａ 超高分解能透過型分析電子顕微鏡ａ 透過電子像分解能は、粒子像 0.23 nm以下、格子像0.1nm以下であること。ｂ 加速電圧は、80〜200kV以上であること。ｃ 試料傾斜角は、Ｘ：±35゜Ｙ：±30°以上であること。ｄ 倍率は、1500000倍以上であること。ｅ ゴニオメータは、ピエゾ駆動装備、ゴニオカバーを装備していること。ｆ 安全装置として、各部安全保護機構を備えること。ｇ 走査像観察装置は、ＨＡＡＤＦ像（暗視野）を観察でき、最小プローブ径が0.2nm以下であること。ｈ ボトムＣＣＤカメラは、ファイバーカップリング方式であること。ｉ サイドＣＣＤカメラは、プリズムオプティカル方式であること。ｊ 3次元再構成は、±70°以上傾斜による3次元再構成機能を有すること。ｋ 制御コンピュータは、Windows ＸＰ以上であること。ｌ エネルギー分散型Ｘ線分析装置の検出器は、シリコンドリフト型検出器であること。ｍ バックアップ電源、冷却水循環装置を備えること。Ｂ 超高分解能走査型分析電子顕微鏡ａ 二次電子像分解能は、 1.0 nm (加速電圧15kV)以下、1.5nm（加速電圧1 kV）以下であること。減速モード付属であること。ｂ 倍率は、1000000倍以上であること。ｃ 像の種類は、二次電子像、反射電子像、透過電子像を投影できること。ｄ 加速電圧は、0.1〜30kVであること。ｅ 電子銃方式は、サーマルショットキー電界放出形電子銃であること。ｆ 対物レンズは、セミレンズ方式であること。ｇ 安全装置として、各部安全保護機構を備えること。ｈ 制御コンピュータは、Windows ＸＰ以上であること。ｉ エネルギー分散型Ｘ線分析装置の検出器は、シリコンドリフト型検出器であること。ｊ 波長分散型Ｘ線分析装置の分光器は、4結晶横型集光タイプであること。ｋ バックアップ電源、冷却水循環装置を備えること。
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