低損傷走査型電子顕微鏡FE-SEM/EB/EDSマルチシステム 一式

落札情報

  1. 品目分類:24
  2. 調達方法:購入等
  3. 契約方式:一般
  4. 落札決定日:25. 3.27
  5. 落札者:日本電子株式会社 東京都昭島市武蔵野3-1-2
  6. 落札価格:69,300,000円(6930万円)
  7. 入札公告日:25. 1.21
  8. 落札方式:最低価格

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