クリープ試験用温度伸びデータ計測システム 一式

落札情報

  1. 品目分類:24
  2. 調達方法:購入等
  3. 契約方式:一般
  4. 落札決定日:22.11.30
  5. 落札者:太陽計測株式会社(東京都大田区山王1-2-6)
  6. 落札価格:99,960,000円(9996万円)
  7. 入札公告日:22. 9.28
  8. 落札方式:最低価格

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