低損傷走査型分析電子顕微鏡 一式

落札情報

  1. 品目分類:24
  2. 調達方法:購入等
  3. 契約方式:一般
  4. 落札決定日:23. 1. 7
  5. 落札者:日本電子株式会社(東京都立川市曙町2-8-3新鈴春ビル6階)
  6. 落札価格:34,229,475円(3422万9475円)
  7. 入札公告日:22.10.26
  8. 落札方式:最低価格

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